Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy - Université catholique de Lille
Article Dans Une Revue Physical Review B Année : 2020

Dates et versions

hal-03288778 , version 1 (31-05-2022)

Identifiants

Citer

Natalia Turek, S. Godey, D. Deresmes, Thierry Melin. Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy. Physical Review B, 2020, 102 (23), ⟨10.1103/PhysRevB.102.235433⟩. ⟨hal-03288778⟩
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