Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy - Université catholique de Lille
Article Dans Une Revue Physical Review B Année : 2020

Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]
Fichier principal
Vignette du fichier
Turek_2020_PhysRevB.102.235433.pdf (1.37 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03288778

Soumis le : mardi 31 mai 2022-15:23:27

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-13:26:03

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-03288778 , version 1 (31-05-2022)

Identifiants

Citer

Natalia Turek, S. Godey, D. Deresmes, Thierry Melin. Ring charging of a single silicon dangling bond imaged by noncontact atomic force microscopy. Physical Review B, 2020, 102 (23), ⟨10.1103/PhysRevB.102.235433⟩. ⟨hal-03288778⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE RENATECH
42 Consultations
79 Téléchargements

Altmetric

Partager

More